Measurement of the inclusive semileptonic branching fraction B(Bs0→X^-ℓ⁺ν_ℓ) at Belle

C. Oswald, P. Urquijo, J. Dingfelder, I. Adachi, H. Aihara, K. Arinstein, D. M. Asner, T. Aushev, A. M. Bakich, K. Belous, V. Bhardwaj, B. Bhuyan, A. Bondar, G. Bonvicini, A. Bozek, M. Bračko, T. E. Browder, P. Chang, V. Chekelian, A. ChenP. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, R. Chistov, K. Cho, V. Chobanova, S. K. Choi, Y. Choi, D. Cinabro, J. Dalseno, Z. Doležal, Z. Drásal, A. Drutskoy, D. Dutta, S. Eidelman, S. Esen, H. Farhat, J. E. Fast, V. Gaur, N. Gabyshev, S. Ganguly, R. Gillard, Y. M. Goh, B. Golob, J. Haba, K. Hayasaka, H. Hayashii, Y. Horii, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. J. Hyun, T. Iijima, A. Ishikawa, R. Itoh, Y. Iwasaki, D. H. Kah, J. H. Kang, E. Kato, T. Kawasaki, C. Kiesling, H. J. Kim, H. O. Kim, J. B. Kim, K. T. Kim, M. J. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, J. Klucar, B. R. Ko, S. Korpar, R. T. Kouzes, P. Križan, P. Krokovny, B. Kronenbitter, T. Kuhr, T. Kumita, Y. J. Kwon, S. H. Lee, J. Li, Y. Li, J. Libby, C. Liu, Y. Liu, Z. Q. Liu, D. Liventsev, R. Louvot, O. Lutz, D. Matvienko, K. Miyabayashi, H. Miyata, R. Mizuk, G. B. Mohanty, A. Moll, N. Muramatsu, Y. Nagasaka, E. Nakano, M. Nakao, E. Nedelkovska, N. K. Nisar, S. Nishida, O. Nitoh, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, S. Okuno, S. L. Olsen, W. Ostrowicz, P. Pakhlov, G. Pakhlova, H. Park, H. K. Park, T. K. Pedlar, R. Pestotnik, M. Petrič, L. E. Piilonen, M. Prim, K. Prothmann, M. Ritter, M. Röhrken, M. Rozanska, S. Ryu, H. Sahoo, T. Saito, Y. Sakai, S. Sandilya, L. Santelj, T. Sanuki, Y. Sato, O. Schneider, G. Schnell, C. Schwanda, A. J. Schwartz, K. Senyo, O. Seon, M. E. Sevior, M. Shapkin, C. P. Shen, T. A. Shibata, J. G. Shiu, B. Shwartz, A. Sibidanov, F. Simon, P. Smerkol, Y. S. Sohn, A. Sokolov, E. Solovieva, M. Starič, T. Sumiyoshi, G. Tatishvili, Y. Teramoto, K. Trabelsi, T. Tsuboyama, M. Uchida, S. Uehara, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, C. Van Hulse, P. Vanhoefer, G. Varner, K. E. Varvell, C. H. Wang, M. Z. Wang, P. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, K. M. Williams, E. Won, H. Yamamoto, Y. Yamashita, C. C. Zhang, Z. P. Zhang, V. Zhilich, A. ZupancShow 154 moreShow less