본 연구에서는 반도체 품질 검사를 위한 X-ray 영상 촬영 시 불필요한 X-ray에 의한 반도체 손상을 최소화 하면서 X-ray 영상의 화질을 향상시킬 수 있는 최적의 X-ray filter 개발을 목적으로 함.

X-ray 에너지스펙트럼 측정 방법론 정립
반도체 제품의 흡수선량을 최소화할 수 있는 X-ray filter 개발